Re: [讨论] 芯片体质

楼主: specman (阿皮回家啦!!)   2017-09-18 13:05:00
我都是作前端的前端, 趁此文章想请教此版各位高手.
1. 一般现场状况是怎样测试芯片到不到的了某个操作频率?
会不会刚开始跑的到, 后来跑不到?
2. 一棵die 失败, 占整颗chip的成本约多少?
※ 引述《FTICR (FT-ICR)》之铭言:
: 一片或一批 wafer 切出每片芯片一定体质有差,有些频率可以跑比较高有些比较低
: Intel 也把保证可以跑到不同频率的芯片标上不同型号来卖
: 不过像是苹果的芯片,以 A9 为例,Wikipedia 写设计频率是 1.85 GHz
: 1. 这样的话整批做出来的芯片,跑不到这频率就算是不良品
: 2. 还是这些芯片可能拿去组装比较低阶的产品
: (像是可以跑到 1.85 GHz 用去组装 iPhone 6s,1.5~1.8 GHz 用去 iPhone SE 或 iPad)
: 甚至不同地区销售的 iPhone 因为价格不同,用的芯片等级可能会有差?
: (好像没看过这样的评测或新闻过)
: 我自己认为比较可能是选项1.,整批做出来是几乎都可以跑在设计频率以上,
: 不知道对不对?
: 是否有前辈可以分享这方面经验? 感谢!
作者: udtsean (I am back)   2017-09-18 15:01:00
1. 那要 sampling 做加速老化测试2. 不一定,看封装型式,例如LCD driver IC (COF) 约占 total cost 的 30%
作者: adfn (月之吻)   2017-09-18 15:08:00
要测试频率,业界的做法是埋一个专门测试频率用的小晶圆然后测试这个小晶圆通过的delay时间。然后依据此delay时间,在与这颗ic真实能跑的频率两者相比就能过在CP测试平台测出跑不到标准频率的die了。因为每个产品die大小差太多,所以成本结构会完全不一样。
作者: twicm (WhyMe)   2017-09-18 16:10:00
Speed sensor+DVFS
作者: ptta (ptta)   2017-09-19 09:01:00
就DFT里面的on speed test,google一下

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