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Tech_Job
Re: [新闻] 应材宣布成功导入钴材料取代铜,延续
楼主:
negohsu
(专打不专业环团)
2017-05-19 19:01:49
由于这是个很有意思的题目,所以我稍微搜寻了一下相关的文献
又由于蔽人在下我的英文很烂,且这不在我的专业领域内,若有错误请帮忙指正,若是有
这方面专业者请不吝指教
我使用的初始关键字为cobalt damascene(以下我简称为钴制程),然后由reference搜寻到
相关的文献,大致上说的是copper damascene(以下简称铜制程)在10nm世代终结(这里的世
代就如同台积的16,10,7nm,非指damascene的pitch)
虽然说铜的电阻率比钴还低很多,但是铜制程中的阻障层(barrier)并不容易再减少厚度
,在铜电镀的过程中会因为可填入铜的体积剧减,产生空隙(void)
因此10nm以下,需要改进阻障层的材质或是采用新的导体,也就是钴
由于钴可以使用无电电镀底部成长型填充制程(electroless bottom up fill in),可以制
造
出无空隙(void free)导线,因次可藉次取代铜制程
对于一般半导体厂,铜制程依旧是最佳选择,因为铜的电阻率比钴低很多
对于台积、英特尔、***来说(我该提联电吗?),更先进的制程或许会采用钴制程
而最有潜力的运用商,会是DRAM厂
在高深宽接触窗( high aspect ratio contact)的金属填充上,底部成长型填充是非常有
吸引力的诱因
以上,提供给想知道更多的人一点个人所知的讯息
作者:
Seikan
(星函)
2017-05-20 07:15:00
AMAT设备商王朝的领土 又扩展了一大步
作者:
lien952
(连)
2017-05-19 19:07:00
长知识
作者:
TatsuyaShiba
( )
2017-05-19 19:13:00
长知识+1
作者:
coldplay0416
(马克)
2017-05-19 19:15:00
推 谢谢分享
作者:
iwaitforyou
(小烂)
2017-05-19 19:16:00
推
作者:
ljsnonocat2
(平凡是幸福)
2017-05-19 19:21:00
感谢 长知识了
作者:
cain5485
(pp)
2017-05-19 19:26:00
认真!!感谢
作者:
Unstable
(就是爱吃阿~~)
2017-05-19 19:36:00
受教了!
作者: roveralex (菜饼)
2017-05-19 20:17:00
谢谢分享
作者: chechung (Hibbert)
2017-05-19 20:25:00
推
作者:
wuhaha151
(飘泊的人)
2017-05-19 20:28:00
长知识了
作者:
aptivaibm
(记住微笑,就不会再害怕)
2017-05-19 20:28:00
electroless 感觉是指化镀,是的话药水商应该很爽..bottom up fill in 有点像是深孔镀膜...y
作者: ji3ao6fu06 (还真别说阿)
2017-05-19 20:33:00
受教了
作者:
mandibular
(颚的)
2017-05-19 20:39:00
barrier是哪一层阿]
作者:
alpacawu
(alpaca)
2017-05-19 20:45:00
electroless无电电镀 用化学氧化还原法镀
楼主:
negohsu
(专打不专业环团)
2017-05-19 20:49:00
barrier在铜的底下。感谢补充我不知道的部份
作者:
Homedoni
2017-05-19 20:58:00
推个
作者:
acctouhou
(acctouhou)
2017-05-19 21:09:00
我现在就在观察双晶铜的void 我难过qq
作者:
werz
(werz)
2017-05-19 21:13:00
应该很多人早就知道换成cobalt吧2 .3年前就在测试台积的Co pattern
作者:
acctouhou
(acctouhou)
2017-05-19 21:20:00
没想到这么快qq
作者:
a1106abc
(HP都陷入内战中)
2017-05-19 21:32:00
推~不过铜也能无电镀啊
作者:
katnissin
(姗拎姗)
2017-05-19 21:46:00
感谢~长知识了
作者:
p23j8a4b9z
(我是小牙签~)
2017-05-19 21:54:00
感谢 原本看到记者说铜导电>钴还以为是记者乱写写错是<
作者: Leifoxx (想听妳 ...)
2017-05-19 21:55:00
涨汁4了 推
作者:
ThonMaker
(KG)
2017-05-19 22:18:00
不过Co不是取代Cu吧?
作者:
melzard
(如理实见)
2017-05-19 22:48:00
那镍没被尝试过吗?
作者: treeyoyo
2017-05-19 23:10:00
metal layer吗?
作者:
sssnss
(00l)
2017-05-19 23:32:00
有人研究Co的电迁移吗
作者:
r781013
(连续出水)
2017-05-20 00:08:00
恩 不知道EM严不严重..
作者:
flyinsky1984
(XXX)
2017-05-20 01:00:00
感谢~
作者:
luche
(luche)
2017-05-20 01:01:00
想请教文中指的铜通常都是较高等级的无氧铜吗
作者:
FTICR
(FT-ICR)
2017-05-20 01:27:00
我看到的是(虽然文章有点旧2014) 把Co沉积在Ta/TaN上再fill Cu 可以 fill 更好减少 void
https://goo.gl/tH3eUN
作者:
ph99
(电光花)
2017-05-20 08:09:00
推!
作者: dan0000
2017-05-20 09:23:00
无电镀杂质很多耶! foundry 可以接受? 有点怀疑!
作者: JBNHT
2017-05-20 09:47:00
感谢分享
作者: CLC32 (BNP)
2017-05-20 22:46:00
Gap-fill
作者:
astushi
2017-05-22 00:32:00
Cobalt EM比Cu好 用在连结上下层的via 基本上各层metal还是copper
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