[讨论] 能蚀刻出高深宽比的DRIE设备

楼主: jgwihi ( )   2015-01-01 20:16:37
请问一下
DRIE(Deep Reactive Ion Etching,深反应式离子蚀刻)设备
它可以在硅基板蚀刻出具有高深宽比,及良好垂直侧壁
但如果想要在整片Wafer蚀刻出来的结果,深度要维持一致性
例如蚀刻深度要200μm,但整片wafer不同位置蚀刻的深度误差要控制在1μm以下
即199μm~201μm之间,目前做出来的结果不容易达到,
侧壁也能达到几乎接近90°
请问有什么设备机台,或是有更高阶的设备,或产学单位可以达到这样的规格要求呢?
谢谢。
补充:或是有蚀刻设备的厂商也请提供。目前知道辛耘。
作者: outzumin (阿呆铭)   2015-01-01 20:23:00
ICP? lower pressure+higher plasma density
作者: deepee258 (触底反弹)   2015-01-01 20:26:00
3DIC吗?
楼主: jgwihi ( )   2015-01-01 20:31:00
ICP有用到SF6、 C4F8,DRIE用到SF6、 C4F8,3DIC或MEMS
作者: lewecool (Korn)   2015-01-01 21:00:00
你要咬tsv的via吗
楼主: jgwihi ( )   2015-01-01 21:04:00
TSV的via也是,用DRIE来蚀刻Trench,要放入其他componentTSV之后会用到
作者: sianous (sianous)   2015-01-01 21:07:00
要看选择的气体跟停止层金属机台应该不难找人,如AMAT
楼主: jgwihi ( )   2015-01-01 21:09:00
气体用SF6蚀刻,C4F8钝化,停止层的金属待确认
作者: smartl (史玛特丸)   2015-01-01 23:02:00
蚀刻设备就属TEL跟LRM两家比较强。你讲的是uniformity 的问题。跟chemistry没有绝对关系。high Vdc比较有机会达到不过可能会衍生出loading的问题。
作者: toroandme (最爱TORO)   2015-01-01 23:57:00
小线宽si吃不动(约0.2um) 想问有其他方法吗吃不用深 约0.2~0.5um 乾和ICP已是过 湿有晶向问题不知道有什么方法 谢谢
作者: smartl (史玛特丸)   2015-01-02 20:01:00
小pitch吃不动有可能是polymer太重。蚀刻气体选择要注意。如果使用比较depo的气体 如C4F8 power就不要开太高。
作者: SkyLark2001 ( )   2015-01-03 07:36:00
原PO不介意可至MEMS版讨论,我不清楚业界但可提供学界经验。至于t兄的问题,十之八九是黄光没做好。
楼主: jgwihi ( )   2015-01-04 20:00:00
没有找到MEMS版,请问版名是什么呢?
作者: youbi (小朋友)   2015-01-07 16:09:00
要求均匀性与under cut?

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