各位正在准备考试的同伙大家好
本人是通讯所的考生
因为目前大学专题有一道相关的问题需要解决
ex:实际案例如下
1. 元件量测仪器是一台非常老旧的机台，
导致每次量测出来的结果的variation很大，
有可能是在非常准测的仪器之下量到的sigma很小，
但用此台老旧仪器量测出来的结果就变成很常大的sigma了.
2. 所以我尽可能的多量测元件，是想说很多元件量测结果资料可以摊平
仪器上的量测误差.
3.请问各位大大，有相关文献是在探讨上面的主题的吗?
ex: 需要量测几点元件数据就能有效把大的sigma缩小成小的sigma.
非常不好意思，把这个问题po在此版，是想问有没有人可以提供相关
的线索或是资料可以提供小弟我参考参考.
先谢谢各位了.