好读
https://www.ptt.cc/bbs/PC_Shopping/M.1742405705.A.8F7.html
先帮楼主拍拍，三爽v6真的雷自己就算了还雷到别人
现在SSD贵森森也只能送修，奇妙的是创见还允许用户拒用三爽颗粒XD
以下99%内容都是脑补出来的，请看看就好
=
研究了一下楼主flashid给出来的资料，这是很有研究价值的东西
不过里面的数据并不能完全相信
1.未有官方解释 2.几乎只能靠字面意义来推敲，缩写也很难懂
而且很多的数值都是空的(-1或0)，单位更不用说
看到有fail之类的不要自己吓自己，也别拿这个去和原厂卢，就当参考用
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一. smi_nvme_flash_id.txt
https://i.imgur.com/EMhw8Bg.png
1.三星v6 136L TLC颗粒、原厂测试坏块19个、三星D4 DRAM
(创见到底三爽DRAM库存压多深==)
2.搞不懂FBlock意思
这是我们看flashid最主要的档案，上面会有控制器、韧体、颗粒等资讯
精华是下面的遥测(telemetry)数据，这些是控制器所记录的内部资料
由于NVMe SMART项目都标准化
只能从遥测看以前SATA SSD能看出的ECC、重定位、坏块资料
而台厂群联和慧荣的资料剖析方式都有被攻破了
(螃蟹、英韧、联芸我没有玩过，所以不知道有无相关资料)
下面的遥测(不同控制器项目会较少，或是可解读项目不同)
https://i.imgur.com/waNbtUj.png
ECC理论顺序为硬LDPC=>(read retry)=>软LDPC=>RAID ECC
向右修正能力越强但越费时间，SMI整套称为NANDXtend技术
硬LDPC解码不行的话就得...
1.TLC read retry(重读)
重读就是来回调整电压看能不能读出正确数据
2.ECCUnc(软LDPC失败)
重读也不行就得用软LDPC，耗时较大
正常来说多少会出现的，切勿慌张，因为还有RAID ECC这招
3.重定位和XOR Fail都有相同数值
XOR就是奇偶校验，也是RAID ECC的原理之一
猜测RAID ECC为最后防线，可以理数值和重定位次数相同
连RAID ECC也没有办法就宣告无法恢复了，也就出现ECC错误事件
这是我最近从网拍买的MTE220S 512GB(美光/Spectek AS等级96L TLC)
可以看到仅软LDPC失败有纪录，RAID ECC无失败纪录
https://i.imgur.com/0hvjNfY.png
实际没跳0E
https://i.imgur.com/TP3i0L2.png
自用了超过五年的MTE220S 512GB(美光/自封64L TLC)
这条用比上面那条还久，没想到都没软LDPC失败，可能64L旧颗粒体质更好
https://i.imgur.com/I1nFUWz.png
实际也没跳0E
https://i.imgur.com/7moRYcT.jpeg
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二. 至于smi_nvme_flash_id_ec.txt这个是颗粒的磨损值
ec应该为Erase Count(抹除次数)，里面的BAD数量可对应前述19个坏块
三. smi_nvme_flash_id_smart.txt就单纯的NVMe SMART数据
用CrystalDiskInfo也能见到
不过下面有温度警告的统计次数
四. 那真的坏掉的案例呢?
之前有板友tyf99用Klevv C720爆0E的案例，今天终于能当教材了
phison_e12_flash_id_ec.txt
前面提过这是颗粒的磨损数据
https://i.imgur.com/AVGmBIq.png
可以看到有一整排BAD，这个就是"1片"芯片坏掉
群联的数据可以看到单独的芯片，慧荣的好像不行
(正常来说一定都有坏块的，但不可能这样整栏BAD，请不要拿这个和客服卢)
phison_nvme_flash_id_smart.txt也有显示ECC错误，包含RAID ECC也没救
https://i.imgur.com/zxFf1bq.png
SSD外观颗粒内部是好几片芯片叠起来
你能看到M.2 2230 TLC用一颗2TB，里面其实就高达16片NAND Flash芯片
当然SSD正反面贴那么多颗，全部加起来也会有很多片芯片