[问题] 薄膜量测热膨胀系数(CTE)

楼主: stacy760414 (Hurricane)   2017-05-31 21:55:15
版上各位晚安,
公司内部要开始建立材料的热膨胀系数,
Vender提供的是以TMA测定的CTE数值,
我们希望能量测材料在实际应用面时呈现的数值,
因此希望能将材料以薄膜方式图布在基材上去做量测,
目前找到的方法有微悬臂量测(From 学术界),
但sample制作相当费工,
可能无法考虑每种材料都这样做,
同时也有找到利用奈米压痕迹测试CTE,
但目前可以送测的单位也遇到无法量测的问题(控温系统无法控制)
不知道各位是否有推荐可以量测的方法?
本身非机械领域,
大部分资讯都是查询后
发现学术界会探讨薄膜机械性质或特性的多为机械系,
因此来版上询问~
隔行如隔山, 先谢谢各位指点囉!!
作者: phisch (phisch)   2017-06-01 09:23:00
可以以公司名义向宜特或SGS询问他们家有怎样的机台可以达到你要的需求吧
楼主: stacy760414 (Hurricane)   2017-06-01 13:07:00
p大这方面我们也有询问,但目前都没有符合需求的测定方式
作者: king786945 (sloken)   2017-06-01 13:10:00
热膨胀系数不好测喔 建议你去问学校教授
作者: phisch (phisch)   2017-06-02 01:03:00
你的薄膜是微米还是奈米等级?如果涂布在膜材上不会担心被膜材的cte干扰吗? 如果是拉伸的pet膜还要考虑md/td方向的cte差异跟热后缩等
楼主: stacy760414 (Hurricane)   2017-06-02 09:43:00
膜材主要是2-50um等级,涂布在Si wafer上,因为想知道实际应用状况所以想确认有被影响状况下的CTE

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