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书名/名称：Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
作者：Ashok K. Sharma
出版社：Wiley-IEEE Press
说明或参考网址：
https://www.amazon.com/Semiconductor-Memories-Technology-Testing-Reliability/dp
/0780310004
书况:5成新
原价/售价：500元 +50元运费
交易方式/地区:邮政或台南市面交
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