[请益] Design for testability 学习 ggggggh PTT批踢踢实业坊

[请益] Design for testability 学习

楼主: ggggggh (ggggggh) 2015-06-14 17:35:07

大家好小弟不常发文有问题请告知我自删
是这样的我目前为IC 后段测试工程师负责写封测端的测试程式
但想要学习Design for testability 中的JTAG,MBIST,SCAN chain, ATPG
请问有什么书or何处有相关资料
Thanks

楼主: ggggggh (ggggggh) 2015-06-14 17:43:00

我目前到处wiki & google 比较缺乏系统学习资料...

作者: jghn1119 (受不了的酷) 2015-06-14 17:47:00

直接拿写好的程式看，外加查menu

作者: color529 (color) 2015-06-14 18:27:00

拿写好的程式看?? 我误会什么了？原PO列的这些DFT都是数位IC提高可测试度所增加的硬件电路。目前都有专属的EDA Tool可以做可测试度的规划与安排，大型的IC厂都由CAD team负责。拿写好的程式能看出什么? 你顶多看的到test pattern罢了国内有几个DFT领域的大咖，吴诚文，王行健，李昆忠，etc.可以去旁听或者问问使用的教课书

作者: kira1116 (kira1116) 2015-06-14 18:37:00

纯推吴诚文

作者: color529 (color) 2015-06-14 18:39:00

基础推荐:VLSI TEST PRINCIPLES AND ARCHITECTURES:Design for testability

楼主: ggggggh (ggggggh) 2015-06-14 18:41:00

感谢小弟懂后段测试ATE& 设计一些verilog, 想要尝试慢慢

作者: color529 (color) 2015-06-14 18:42:00

进阶就System on chip test architectures:Nanometer design for testability, 此书只要整合了DFT领域的代表会议或期刊论文，讨论较深

楼主: ggggggh (ggggggh) 2015-06-14 18:45:00

转变至也懂DFT,或许日后可以做DFT eng.. Thnaks.

作者: color529 (color) 2015-06-14 18:45:00

这两本书是小弟研究所选修DFT,大咖教授的指定用书，供你参考

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