请问各位高手
如果要监控产品的品质
例如bonding的好坏 可以看他每次的经度来建立SPC监测
但目前遇到一个困惑的地方
今天如果要监控品质
这产品是触控产品
使用电测程式去进行测试
如要监控
因该是要看其测试的数据 去监控他的起伏
但其测试数值矩阵非常巨大
且有区域性其独特性
有些位置特别低
有些特别高
那要如何监控他
因为没有一个数值能够代表整片
想请教各位 有何想法
例如 晶圆厂商要测试晶圆是否好坏 监控制程是否变异
是怎样去测试IC的= =

Monte-carlo