Fw: [闲聊] Iometer v1.1.0简单操作说明

楼主: Cubelia (天空の夜明け)   2015-07-28 19:50:35
※ [本文转录自 PC_Shopping 看板 #1LjrSVKK ]
作者: Cubelia (天空の夜明け) 看板: PC_Shopping
标题: [心得] Iometer v1.1.0简单操作说明
时间: Tue Jul 28 18:19:02 2015
网页好读版
https://goo.gl/b3jZFy
最近写SSD推荐&懒人包有点想不到要写啥了...来写个Iometer使用说明好惹
===
Iometer其实可以很简单,但也可以很难
普通的end user要进行测试主要是卡在workload的设定档不知如何设定
不会设定的话可以去网络找各种不同workload的设定档
之前OCZ粉丝团有mixed workload的设定档可供下载,很方便
不过最近要去下载时就发现档案被删惹,不知道什么时候才又会重新上传
比较典型的一些设定档可以从111alan大大在pceva发表的
"桌面与企业级的真实 Intel DC S3700/S3500详解"文章的尾段来下载
(也有提供简单的操作说明,如有直接使用的话建议可以注明是在那边下载的唷!!)
首先将Iometer主程式开启,会顺便将Dynamo.exe开启(正常现象)
Disk Target
http://i.imgur.com/HtarP9R.png
左侧有manager和worker在多碟测试会有用处,在此不多提
*Pseudo Random的数据基本上是无法被压缩的
Access Specifications
http://i.imgur.com/u8eca0c.png
右侧的New可新增access specification
Edit可编辑现有的access specification
Edit Copy会先拷贝原选择的access specification再进行编辑
Delete会删除所选择的access specification
里面的设定方法在此不多加赘述,有兴趣的话可以找Iometer使用者手册来研究
直接将workload的设定档开启就行
iometer1.1 4-2048KQD4 sequential reads
依序4K=>8K=>16K=>32K=>64K=>128K=>256K=>512K=>1024K=>2048K
进行QD4的循序读取(各为一分钟)
iometer1.1 4-2048KQD4 sequential writes
依序4K=>8K=>16K=>32K=>64K=>128K=>256K=>512K=>1024K=>2048K
进行QD4的循序写入(各为一分钟)
iometer1.1 4KQD1-32 random 80-20
以4K大小的要求
再依序QD1=>QD2=>QD4=>QD8=>QD16=>QD32的随机混合读取与写入(R:W为80%:20%)
各一分钟
iometer1.1 4KQD1-32 random reads
以4K大小的要求
依序QD1=>QD2=>QD4=>QD8=>QD16=>QD32的随机读取
各一分钟
iometer1.1 4KQD1-32 random writes
以4K大小的要求
依序QD1=>QD2=>QD4=>QD8=>QD16=>QD32的随机写入
各一分钟
iometer1.1 4KQD1 random read map
1000秒的4K QD1随机读取
iometer1.1 4KQD1 random write map
1000秒的4K QD1随机写入
iometer1.1 4KQD32 random read map
1000秒的4K QD32随机读取
iometer1.1 4KQD32 random write steady map
5000秒的4K QD32随机写入
这是比较典型来测"稳定态"的设定档
考验主控在高压且[长时间]下情况下的性能
(常见的跑分如AS SSD是测爆发性能, 没有考量到"时间"这个因素)
绘制成图表另可观察其离散度与consistency表现
个人现在看SSD测试文都会多留意这项, 其实挺有趣der
Results Display
http://i.imgur.com/PtYWinS.png
Test Setup
http://i.imgur.com/drerMZb.png
进行好设定后就可以按下绿色旗子来开始囉
每做一个测试前建议将该SSD或装置进行Secure Erase(ATA)或厂商规范的相关方法
能提供SE的方法会更好(请注意SE会清除该SSD上所有的数据)
且在进行时别做任何的操作,以免影响测试数据
更严谨的做法可以提供以下资讯:
测试时间、测试软件的版本
跑iometer就和跑分那样多少都会减少一些NAND Flash的寿命,如非必要可以不用跑
测试时的系统硬件:
制造厂商、主机板型号、CPU型号、内存、连接在哪个芯片组所提供的接口上、
主要储存装置(如系统碟)、周边、作业系统版本、档案系统(如NTFS)
测试硬件:
制造厂商、型号、韧体版本、容量大小、速度(如SATA 6Gb/s)、
储存装置接口(如2.5"或M.2)、颗粒种类(如TLC或MLC)
其它如AHCI和RST等驱动版本也可顺便提供
桌面与企业级的真实 Intel DC S3700/S3500详解(好文,建议可多花一些时间看内容)
http://goo.gl/3QlpXz
文章尾段有workload的参考设定档可下载
该篇文章的作者1111alan大大在pceva的个人页面
http://goo.gl/jxXusy
测试可参考SNIA的PTS-C v1.2
http://www.snia.org/sites/default/files/SSS_PTS_Client_v1.2.pdf
与SNIA的PTS-E v1.1
http://snia.org/sites/default/files/SSS_PTS_Enterprise_v1.1.pdf
Iometer使用者手册(有点旧了,2004年时的文件)
http://goo.gl/q9jQTT
Iometer results可以将Iometer的csv档输出为简单的表格
使用者也可利用试算表软件来绘制图表
http://vmktree.org/iometer/
希望可以钓出更多高人来写教学文~

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