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作者: suehung001 (suehung) 看板: learnyf
标题: [情报] 交通大学 积体电路测试技术课程
时间: Thu Jun 5 13:55:18 2014
课程名称 P102209 积体电路测试技术
开课时数 15小时
上课费用 一般价4,500元
特约厂商、3人以上团报4,000元 峡查询特约商明录 峡立即加入特约厂商
同服务单位五人以上团报3,000元
开课日期 103年6月16日至6月30日 每周一、三、四 晚间18:30~21:30
开课地点 交通大学工程四馆教室与电脑教室
（教室地点于课前，以行前通知另行公布）
地址：新竹市大学路1001号
招生对象 半导体产业暨相关系统业者之在职人士或有相关技术需求者
结训 本课程核发“结训证书”依据为出席率8成以上（依据签到退表资料）
课程目标 本课程为积体电路测试技术课程，期让学员深入了解测试技术。邀请测试领域
的专家，详细介绍传统与最先进的测试与可测试设计技术。学员在学习之后，不但能够解
决多样化积体电路(IC)测试的问题，更能够在设计之中加入测试的概念，设计出高品质与
低测试成本的IC。
课程大纲
1. Introduction to scan design
2. Fundaments of fault simulation & ATPG
3. Scan chain insertion & ATPG with scan design (实作)
授课师资 赵家佐 教授
现职：国立交通大学电子工程系助理教授
经历：美国加州大学圣塔芭芭拉分校 研究助理
NEC纽泽西研究实验室 研发人员
专长：Statistical timing analysis、delay testing、test-response 、
compaction、physical automation、low-power testing
※报名方式：1.传真（03-5711992）、email（mingyu@nctu.edu.tw）回复本报名表均可
。
2.线上报名请至网站 http://submic.ee.nctu.edu.tw 点选‘开课报名’依步骤报名。
※选课前请详阅课程简章，报名后恕不受理退费或转科。
※连络方式：交通大学电子系人才培训中心 陈敏玉小姐
电话 (03) 5731744 传真(03)5711992
地址：300新竹市大学路1001号 工程四馆312A室,
网址：http://submic.ee.nctu.edu.tw Email：mingyu@nctu.edu.tw