https://i.imgur.com/1SWgJcX.jpeg
Pat Gelsinger是你们业界的吗？
他说：“若在不先定义芯片尺寸的情况下，就以%数做为衡量半导体标准的人，并不理解良
率。通常会用DD（defect densities，缺陷密度）来评估良率。”
难怪他被退休惹
※ 引述 《a000000000 (比古A十郎)》 之铭言：
: 　
: 我直接说惹
: 业界没有人芯片良率看defect density
: 良率只看功能正不正常 效能正不正常
: 　
: defect跟良率不是无关
: 不直接相关
: 　
: 　
: 　
: 一般情况要纸面上提升良率
: 那就把期待的效能区间放宽
: 良率就上来惹
: 　
: 　
: 不过功能不正常的还是不能用
: 　
: 例如预期1+1=2但是跑出来1+1=3之类der
: 功能问题通常4报错比较多