※ 引述《KD007 ()》之铭言：
: 测试条件:摄氏200度，连续24小时
^^^^^^^^^^
: 看到这就不想看了
: 讲这个测试条件就好了
: 一般使用来说是毫无意义的
: 正常使用根本不可能会到达这种苛刻条件
: 超频超得死去活来也不会有这种温度，先热死
: 参照这种测试去选导热膏，意义不大
: 与其讲究长效性，不如定期更换导热膏
: 更换过程中弄坏零件才有理由买新的
我来深度讨论一下这个问题
需要散热膏的地方很多 尤其是工业用途上
但这里是电虾 所以这里讨论的就是围绕着半导体在转
你的CPU GPU DRAM FLASH....甚至VRM power mosfet
通通都是半导体
这里有份analog device的文件:
https://www.analog.com/media/cn/training-seminars/tutorials/mt-093_cn.pdf
简单节录重点:
出于可靠性原因，处理大功率的集成电路越来越需要达到热管理要求。所有半导体都针对
结温(TJ
)规定了安全上限，通常为150°C(有时为175°C)。与最大电源电压一样，最大结温是
一种最差情况限制，不得超过此值。在保守设计中，一般留有充分的安全裕量。请注意，
这一点至关重要，因为半导体的寿命与工作结温成反比。简单而言，IC温度越低，越有可
能达到最长寿命。
Tj就是结点温度 这个温度是半导体PN接口的温度 埋在半导体封装里的芯片上
经过一连串热组来到封装外壳温度Tc 所以Tc不可能大于Tj
因此半导体的表面温度绝对不会大于175度 因为这违反物理逻辑
会达到或高于Tj 那就是这个半导体烧毁了 超过安全阀值 发炉啦
既然Tc无法高于175度 用在半导体上的导热膏你用200度去烤就没有意义了
因为这已经是无理实验了 不管烤多久这实验就是废的
前提错误导致后续实验数据全部是错误
厂商设计散热膏跟实验时都必须考虑用途并设定产品的使用范围跟参数
应该说没有厂商会设计一个上山下海通包的产品 不管是散热膏还是其他
当你应用环境不会超过175度(max)时 你也不会考虑跟实验200度时会有怎样的表现
因为这已经算破坏性实验 产品只要没跟着发炉起火就算安规上合格
还有175度已经是顶级功率元件的规范
一般商用CPU跟GPU根本不会允许你跑到这么高的温度 详情请查阅datasheet
现在的CPU GPU甚至好一点的MCU都有内埋温度diode在侦测温度
超过一定温度早就降速降温甚至停止不工作避免自身烧毁
200度? 呵呵
作者:
Jay915 (平静的心…看世界)
2022-07-17 23:25:00推
作者:
kisia (Zetsubo Billy)
2022-07-17 23:29:00推 这才叫有根据的说法
作者: xleacigma (心摇摇如悬旌) 2022-07-17 23:31:00
可能某天会有烤箱机壳啊 现在烤箱都可以上200度呢XD
作者: rock0807 (∫PTT帮∫ 废文组组长) 2022-07-17 23:33:00
推
作者:
BDrip (蓝光~)
2022-07-17 23:39:00好像有写150度 1000小时是常规老化测试 要通过200度得特制
作者:
hdjj (hdjj)
2022-07-17 23:48:00一般主机板上都有过热保护,设定通常不会超过120度过热保险丝大概是130度,所以用200度做实验是真的莫名其妙
作者:
Ohmy (喔卖)
2022-07-17 23:55:00总是有人不认真思考照单全收还深信不疑
作者:
SunFox58 (sunfox)
2022-07-18 00:09:00推这篇
作者:
AbeNana (安部菜々)
2022-07-18 00:37:00Intel的Tj多是100度左右
作者: palkey (过路人) 2022-07-18 00:54:00
原来tj是指这个，看i皇cpu规格表有出现
作者: shang17 (十七夜) 2022-07-18 01:11:00
就跟烤面包一样，200度烤20分钟≠4000度烤1分钟
是有升高温度来减少测试时间的试验方法 当然温度不能无限制拉高降低 问题是这个测试是否有使用正确的温度及时间 这个看起来像脑袋一拍就随便做的试验 实验环境、理论、变量、组数都没设定好 这个试验结果不太能拿来当散热膏耐久度的参考 而且我记得流动性比较好的散热膏会因为热胀冷缩及重力的影响往下流反而比较不耐久
作者: ehai0725 (绘) 2022-07-18 01:49:00
推，这才有根据，老化党催到200度比测一年更不实际
作者:
TryToBe (奋发低调鸡掰人)
2022-07-18 02:17:00讲200度是老化测试合理的 好像都觉得导热膏性质是线性的一样 你故意把他烤过了质变临界点 再来说这是老化测试 他老化测试过后性质改变=长期100度以下使用耐久性不佳我他妈只会觉得你逻辑死去
作者:
oppoR20 (R20)
2022-07-18 02:21:00推
作者:
glad850 (好难决定)
2022-07-18 02:57:00不会超过175度是硅芯片，第三类半导体功率元件随便都超过这个值
作者:
bunjie (Bunjie)
2022-07-18 06:46:00推一个 做实验要清楚条件的极限与来源再来做才有意义
作者:
Litfal (Litfal)
2022-07-18 08:19:00逻辑没死啦，只是忽略了一个变因导致实验无效
作者:
Dreampen (workerlevel)
2022-07-18 08:55:00推有根据
作者:
crow0801 (multitude)
2022-07-18 09:26:00加速老化不等于加速摧毁啊 上一篇一堆推文抓着老化就无视实验条件合不合理
作者: sef96121 2022-07-18 09:34:00
推
作者:
balius (爱喝鲜奶茶)
2022-07-18 10:01:00推实验要在合理的范围内
作者:
LiNcUtT (典)
2022-07-18 10:05:00Tj台湾一般叫接面温度,顾名思义就PN接面温度Tjunction
作者:
LiNcUtT (典)
2022-07-18 10:07:00那实验除了温度不太合理,烤干的方式更奇怪要测衰退应该是要先抹好压好再测烘烤前后的温差毕竟它是导热"介质",把它烤干了当然没办法抹对我来说该实验结果没啥参考价值
作者:
oldriver (oldriver)
2022-07-18 10:53:00导热膏的物性表也要参考啊 烤到三相变化有意义吗
作者:
s800525 (Tim)
2022-07-18 11:47:00就用物理性质去思考化学性质，文组都知道不能这样搞..
车砸烂是耐久测试啊是测能砸多久才烂啊不然遇棒球队 我怎知道我在里面是否能撑到警察来?(误他们会说 硬件不就化学物理做出来的
作者:
s800525 (Tim)
2022-07-18 11:51:00就像隔壁极客湾在测SOC都知道不能只测极限效能，也要把中低负载(正常使用)加进去测
作者:
erisiss0 (965005)
2022-07-18 12:38:00推合理实验
作者:
ronald279 (ronald279)
2022-07-18 13:13:00推
他们要测人类在35度住一年会怎样 都是直接200度24小时老化测试的 方便快速
作者:
gameguy (gameguy号：)
2022-07-18 14:55:00讲这么多，信越9721用下去用的你芯片坏掉，散热膏都还可以重复使用，前提是正版信越大罐装的，GG
作者:
Saren (Saren)
2022-07-19 07:17:00工业测试当中的老化测试就是一种加严测试 用更严格的环境来缩短测试时间 不然你用一般测试环境测几年说不定公司都倒了产品都EOL了 还没有结果超出额定温度是可以 但决定200度是有什么根据？ 如果没有一个工业标准就是只是上驷对下驷 拿一个不是重点的参数比高下
想请问一下，如果超过175度会坏掉那当初半导体要怎么焊上去？显卡维修不就都坏掉了？
作者:
sdbb (帮我泡杯卡布奇诺)
2022-07-19 13:01:00楼上好问题，不知道SMT 温度是多少
作者: sleepgod0602 2022-07-19 19:51:00
封测厂大多都105度在烤而已,偶尔会到120200度真的来乱的
作者:
r781013 (连续出水)
2022-07-19 20:18:00Stress测试也还好啊 加速看可靠度不然半导体10年可靠度怎么保证的
作者:
LiNcUtT (典)
2022-07-19 20:20:00单烤膏没意义啊,要也是先涂好再连散热片一起烤
作者:
wolflsi (港都狼仔)
2022-07-20 18:21:00回焊炉及封装烤箱制程有升温曲线的，不会一次就拉到最高