研究员：三星GalaxyS7出现资安问题
外媒指出，三星之前的旗舰机 Galaxy S7 智能手机的微芯片出现了安全漏
洞，这使得数以千万计的手机正面临着黑客的风险。
奥地利 Graz 科技大学的研究人员提到，他们已经找到了利用 Meltdown 漏洞攻击
Galaxy S7 手机的方法。该团队计划于周三 (8 日) 在拉斯维加斯举行的黑帽安全会议上
公布调查结果。
三星电子制造的 Galaxy 7 及其他智能手机此前原本被认为不受一个名为 Meltdown 的安
全漏洞影响，研究人员表示，该漏洞影响了全球大部分电脑 (PC)、智能手机、和其他计
算设备。
研究员 Michael Schwarz 表示，他们正在研究 Meltdown 对智能手机其他品牌和型号的
影响，并期望在不久的将来发现更多易受攻击的设备。他说道，“我们还不知道有多
少手机受到影响，可能有数亿台手机受到 Meltdown 的影响，而因为供应商自己不知道已
出现资安危机，导致补丁无法推出”。
三星表示，它将在 1 月和 7 月推出补丁，以保护 Galaxy S7 手机不受 Meltdown 影响
。三星发言人没有评论目前出售了多少台 Galaxy S7 手机，但提到未有 Meltdown 攻击
S7 手机的案例，而其他三星手机也未有被受攻击的记录。
Meltdown 和被称为 Spectre 的资安漏洞可被利用来显示计算机设备中央处理单元的内容
，黑客可通过绕过硬件障碍或欺骗应用程式公布密码来加以利用被害者。
目前还没有黑客在现实世界的攻击中利用这两个漏洞的案例，但披露广泛的硬件缺陷已经
震撼了计算机行业，迫使芯片制造商和设备制造商推出补丁，以试图压低伤害。
根据研究公司 Strategy Analytics 的数据，目前大约有 3000 万人使用 Galaxy S7。
自 2016 年 S7 首次亮相以来，三星已发布另外 Galaxy 系列的两个新版本，如 S8 及
S9 等。
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