[闲聊] .

楼主: kuromu (kuromu)   2024-03-26 18:27:06
发现某种统计检定方法如果图像化
感觉很像两个点光源通过单狭缝绕射后
在屏幕形成的光强度分布
于是想到谈成像角分辨率时会用的瑞丽判据
内容是成像中可分辨出是来自两点的最小夹角
是发生在点A成像的最亮处和点B成像亮暗纹的第一个暗处重合时
乍看很有道理 可是我疑惑到底是人为划定的规则或是有什么其他原理
以前好像查过其实有其他判据 于是我就把问题搁置了
但是想到统计检定和两点光源绕射成像的相似处 就试着查资料
结果查到了几篇论文 是从统计检定的角度试图推出分辨率判据
公式没有完全一样甚至稍微复杂 不过在数值数量级相近
其论点似乎是 因为单狭缝绕射可视为光子穿过狭缝
依据某种机率分布落在屏幕
屏幕上的成像 就是对机率分布的抽样
所以判断成像是否来自两个点光源 等价于做统计检定是否来自两个分布
因而统计检定的方法和角分辨率判据有关联
楼主: kuromu (kuromu)   2024-03-26 19:12:00
然后最小夹角是依据允许的type I/II error变化

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