关于耳机run-in的话题其实并不少见
然而很多时候其实是想当然耳
先谈耳机音圈
在谈会不会烧坏，发热或变形前，可以参考公布的最大承受功率/
持续承受功率参数，这至少是个官方认为"没问题"的指标
就我所知，输入了过大的功率
有两种可能：一种是音圈运动的范围超出磁隙，撞到扼铁
导致音圈变形：不再是正圆，移动时会有明显的杂音或音量变得很小
Grado PSK当年那个惨剧应该是这个情况
一种是 音圈表面的涂层/ 音圈与振膜胶合处长时间受热变质
这种算是日积月累，可能也比较难察觉
而 回到run耳机的话题上，除了run耳机单体
也是在run耳罩与头带.... 也因此一般耳机店那种挿一排run整天的run法
在我看来效果不彰.....