https://www.science.org/doi/10.1126/sciadv.ads1176
AEgIS计画由慕尼黑工业大学中子源FRM II的Christoph Hugenschmidt领导
他们在CERN反物质工厂的实验需要高精度测量反氢在地球引力场下的自由落体
为了将照相底片级分辨率、即时诊断、自校准和良好的粒子收集表面结合在同个设备中以
即时对反物质与物质的湮灭点进行成像
他们先产生一束水平反氢粒子并用莫尔偏转仪测量其垂直位移
再使用手机相机探测器记录反氢粒子湮没点
在剥去手机相机传感器的第一层后
他们整合多个相机传感器到装置中使其达到3840万像素的分辨率
打造出世界像素数最高的成像探测器
此装置可以即时精确定位反质子湮没
分辨率为0.6微米
比以前方法提高35倍
成像后科学家可透过湮没产物的径迹宽度研究这些是由质子还是介子产生的
装置可用于观察重力引起的反氢变化
大大降低低能反粒子湮没的研究难度